1.半导体器件损坏的特点
三极管的损坏一般是PN结击穿或开路，其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现：
一是热稳定性变差，兴勤压敏电阻，表现为开机时正常，工作一段时间后，发生软击穿;
另一种是PN结的特性变差。
2.半导体器件的检测方法 用万用表R×1k测，各PN结均正常，但上机后不能正常工作，如果用R×10或R×1低量程档测，就会发现其PN结正向阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量，惠州压敏电阻，较准确的方法是：将万用表置R×10或R×1档(一般用R×10档，不明显时再用R×1档)在路测二、三极管的PN 结正、反向电阻，如果正向电阻不太大(相对正常值)，反向电阻足够大(相对正向值)，表明该PN结正常，反之就值得怀疑，需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上，电源压敏电阻，用万用表低阻值档在路测量，可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。
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压敏电阻是中国大陆的名词，意思是'在一定电流电压范围内电阻值随电压而变'，或者是说'电阻值对电压敏感'的阻器。相应的英文名称叫“VDR”。 压敏电阻器的电阻体材料是半导体，所以它是半导体电阻器的一个品种。现在大量使用的'氧化锌'（ZnO）压敏电阻器，它的主体材料有二价元素（Zn）和六价元素氧（O）所构成。所以从材料的角度来看，氧化锌压敏电阻器是一种“Ⅱ-Ⅵ族氧化物半导体”。 在中国台湾，压敏电阻器是按其用途来命名的，压敏电阻厂家，称为'突波吸收器'。压敏电阻器按其用途有时也称为“电冲击（浪涌）抑制器（吸收器）”。
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